除了之前提到的使用萬用表測(cè)試、示波器測(cè)試和簡(jiǎn)單觸發(fā)電路測(cè)試等方法外，測(cè)試可控硅觸發(fā)二極管的好壞還可以采用以下方法：一、溫度特性測(cè)試測(cè)試原理：可控硅在不同溫度下的電氣性能會(huì)有所變化。通過測(cè)試其在不同溫度下的觸發(fā)電壓、導(dǎo)通電壓等參數(shù)，可以判斷其溫度特性是否正常。測(cè)試步驟：將可控硅置于不同溫度環(huán)境下（如使用恒溫箱或加熱器等設(shè)備）。在每個(gè)溫度點(diǎn)下......

可控硅觸發(fā)二極管（通常簡(jiǎn)稱為可控硅或晶閘管）的好壞可以通過多種方法進(jìn)行測(cè)試。以下是一些常用的測(cè)試方法：一、使用萬用表測(cè)試測(cè)試觸發(fā)電壓和觸發(fā)電流將萬用表設(shè)置為電壓測(cè)量模式，連接可控硅的陽極（A）和陰極（K），同時(shí)用另一根表筆觸碰控制極（G）。逐漸增加陽極與陰極之間的電壓，觀察萬用表上的讀數(shù)。當(dāng)可控硅開始導(dǎo)通時(shí)，記錄下此時(shí)的電壓值，即為觸發(fā)電......