原標題：ISL71091SEHxx電壓基準的總劑量測試

ISL71091SEHxx電壓基準的總劑量測試主要評估該電壓基準的總劑量硬度及其劑量率和偏差敏感性。以下是對該測試的一些詳細分析：

一、測試目的

• 評估ISL71091SEHxx電壓基準的總劑量硬度。

• 評估其劑量率和偏差敏感性。

• 觀察零件在偏置高溫退火下的加速老化響應(yīng)。

二、測試樣品與變體

• ISL71091SEHxx具有多個變體，包括ISL71091SEH20（2.048V標稱輸出電壓）、ISL71091SEH33（3.3V標稱輸出電壓）、ISL71091SEH40（4.096V標稱輸出電壓）和ISL71091SEH10（10.0V標稱輸出電壓）。

• 這些變體使用相同的基礎(chǔ)芯片，通過不同的掩膜電平和片上微調(diào)選擇輸出電壓，并在探針和封裝電平處進行調(diào)整以獲得指定的輸出電壓。

三、測試條件與方法

• 劑量率：測試包括高劑量率（50至300 rad(Si)/s）和低劑量率（0.01 rad(Si)/s）。

• 輻照設(shè)施：使用位于佛羅里達州Intersil設(shè)施的Gammacell 220 60Co輻照器進行高劑量率測試，使用Intersil Palm Bay N40全景低劑量率60Co輻照器進行低劑量率測試。

• 偏置高溫退火：使用設(shè)置在+100°C的小型溫度室進行輻照后的高溫偏置退火。

• 電氣測試：使用生產(chǎn)自動化測試設(shè)備（ATE）在輻射器外部執(zhí)行所有電氣測試，并在每個下降點進行數(shù)據(jù)記錄。所有下行電氣測試均在室溫下進行。

四、測試結(jié)果

• ISL71091SEHxx變體在高劑量率和低劑量率照射下均顯示出良好的性能。

• 所有樣品均以SMD中指定的總劑量水平通過了輻照后規(guī)范。

• 在臨界輸出電壓參數(shù)中觀察到一定的劑量率靈敏度和偏置靈敏度，該部件被認為是中等較低的劑量率靈敏度。

• 觀察到有趣的偏向高溫退火響應(yīng)。

五、ISL71091SEHxx電壓基準的特點

• 是一款低噪聲精密基準電壓源，具有4.6V至30V的寬電源電壓范圍（3.3V型號）。

• 提供四個輸出電壓選項，包括2.048V、3.3V、4.096V和10.0V。

• 具有6 ppm/°C的溫度系數(shù)以及出色的線路和負載調(diào)節(jié)能力。

• 實現(xiàn)了低于5.2μV的峰峰值（0.1Hz至10Hz，3.3V變型）噪聲。

• 初始電壓在+25°C時為±0.05%，在整個輻射范圍內(nèi)為±0.25%。

綜上所述，ISL71091SEHxx電壓基準在總劑量測試中表現(xiàn)出良好的性能，具有中等較低的劑量率靈敏度和有趣的偏向高溫退火響應(yīng)。這些特性使其成為儀器儀表等應(yīng)用領(lǐng)域的理想選擇。