是德科技推出多核并行測試系統(tǒng),在減小外形的同時(shí)顯著提升測試吞吐量


原標(biāo)題:是德科技推出多核并行測試系統(tǒng),在減小外形的同時(shí)顯著提升測試吞吐量
是德科技公司推出的多核并行測試系統(tǒng)在減小外形的同時(shí)顯著提升了測試吞吐量,這一創(chuàng)新成果對(duì)測試領(lǐng)域產(chǎn)生了重要影響。以下是對(duì)該系統(tǒng)及其優(yōu)勢的詳細(xì)分析:
一、系統(tǒng)概述
是德科技公司推出的全新多核并行測試系統(tǒng),如i7090,是一款專為多種印刷電路板(PCBA)設(shè)計(jì)的自動(dòng)測試設(shè)備。該系統(tǒng)采用了創(chuàng)新的模塊化體系結(jié)構(gòu),外形纖小卻能提供突破性的測試速度,進(jìn)而顯著提升吞吐量。
二、系統(tǒng)優(yōu)勢
高吞吐量:
是德科技新型多核并行測試系統(tǒng)可支持多達(dá)20個(gè)內(nèi)核并行測試,相比市面上最多只能支持四核并行測試的系統(tǒng),其測試吞吐量有了顯著提升。
系統(tǒng)提供了基于PXIe模塊化接口整合功能測試,內(nèi)核配置可以靈活調(diào)整,不受電路板多聯(lián)版數(shù)量的限制,從而降低了總體計(jì)算成本。
節(jié)省空間:
系統(tǒng)體積小,僅寬600毫米,為測試空間有限的用戶節(jié)省了寶貴的測試空間和測試周期。
高效測試:
不上電和無矢量測試技術(shù)(VTEP)帶來了更快的測試速度、更低的夾具成本和更高的故障覆蓋率。
儀器與Keysight OpenTAP軟件集成在同一個(gè)平臺(tái)中,可提供高效的功能測試測量。
靈活擴(kuò)展:
支持在標(biāo)準(zhǔn)的48厘米機(jī)架中安裝多個(gè)儀器,實(shí)現(xiàn)功能整合。
用戶可以根據(jù)需要添加可擴(kuò)展的儀器和插卡,輕松整合所有的測試資源。
集成燒錄功能:
系統(tǒng)提供了系統(tǒng)內(nèi)建燒錄能力,允許用戶使用160個(gè)通道實(shí)施并行測試,進(jìn)一步提高了測試系統(tǒng)吞吐量。
三、應(yīng)用場景
是德科技的多核并行測試系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于全球通信生態(tài)系統(tǒng)、航空航天與國防、汽車、能源、半導(dǎo)體和通用電子終端市場等領(lǐng)域。它能夠幫助企業(yè)、服務(wù)提供商和政府客戶加速創(chuàng)新,降低測試成本,更快地將電子產(chǎn)品推向市場。
四、市場反饋
隨著全球半導(dǎo)體供應(yīng)不足和需求的不斷增加,以及半導(dǎo)體技術(shù)創(chuàng)新和復(fù)雜器件設(shè)計(jì)的挑戰(zhàn),是德科技的多核并行測試系統(tǒng)憑借其高吞吐量、經(jīng)濟(jì)高效的測試能力,贏得了市場的廣泛認(rèn)可和好評(píng)。
綜上所述,是德科技推出的多核并行測試系統(tǒng)在減小外形的同時(shí)顯著提升了測試吞吐量,為測試領(lǐng)域帶來了革命性的變革。該系統(tǒng)憑借其諸多優(yōu)勢,在多個(gè)領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用,并贏得了市場的廣泛贊譽(yù)。
責(zé)任編輯:David
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